上海奥麦达微电子有限公司

专业高效
微纳加工公司

6寸薄膜钽酸锂晶圆(LTOI)

上海奥麦达微可以提供4寸和6寸的LTOI晶圆

我们提供 4-6寸的 LTOI晶圆(薄膜钽酸锂)

应用:

SAW表面声波器件--POI晶圆

TFLT PIC薄膜钽酸锂光子集成电路

支持的尺寸:4寸 6寸

晶体切向:X切(光学),Y切-Y42(SAW),Z切(量子)

铌酸锂层厚度:300nm-600nm(SMARTCUT),>600nm(减薄抛光)

热氧层厚度:50nm-20um

衬底厚度:4寸(675um),6寸(675um),8寸(725um)

加工工艺:亲水键合+退火,表面活化键合

定制加工:除了标准LTOI晶圆之外,我们同时提供LTOI晶圆的定制化加工服务。

我们的优势:全流程 全面的加工能力 

*离子注入*减薄和抛光*表面活化键合*亲水键合*退火*超高精度TRIM抛光全面的加工能力可以为您提供快速,高效的定制化加工服务。


钽酸锂薄膜分为厚膜(大于600nm)和薄膜(300nm-600nm)

薄膜钽酸锂

采用亲水键合或者表面活化键合技术先对酸锂晶体进行离子注入加工,然后将热氧片和X切或Z切酸锂晶体晶圆键合在一起,通过退火扩大离子注入的缺陷,剥离酸锂衬底,留下酸锂薄膜,在对表面进行CMP抛光和离子束精修得到成品,将厚度控制到您所需要的厚度。

厚膜酸锂

采用亲水键合或者表面活化键合技术,直接将酸锂晶体和热氧片键合在一起,然后直接采用减薄抛光的方式对酸锂晶体进行减薄,减薄到10um左右厚度,然后进行CMP加工,在抛光至近似厚度之后,在进行离子束精修,对表面的膜厚精度进行精修。这样得到的晶圆可以在6英寸上保持+-100nm的膜厚均匀性。

值得注意的是离子注入和 直接CMP和减薄这两种方式有各自的优缺点。我们为客户提供多种LNOI产品。


酸锂晶体分为同成分铌酸锂和近化学计量比酸锂

我们也可以提供近化学计量比酸锂,相对于市场上常用的同成分酸锂晶体,近化学计量比酸锂晶体具有更大的电光系数和非线性光学系数,以及更小的矫顽场以及更小的短波吸收。可以表现出更优异的性能。目前同成分薄膜酸锂晶圆支持4-8寸加工,近化学计量比薄膜酸锂晶圆支持4-6寸加工,如果你对近化学计量比酸锂感兴趣,请点击这个链接:近化学计量比钽酸锂晶体



关于我们

OMeda(上海奥麦达微)成立于2021年,由3名在微纳加工行业拥有超过7年经验的工艺,项目人员创立。目前拥有员工15人,在微纳加工(镀膜、光刻、蚀刻、双光子打印、键合,键合)等工艺拥有丰富的经验。 同时,我们支持4/6/8英寸晶圆的纳米加工。部分设备和工艺支持12英寸晶圆工艺。针对MEMS传感器、柔性传感器、微流控、微纳光学,激光器,光子集成电路,Micro LED,功率器件等行业。 我们将凭借先进的设备、仪器和经验,为您带来可靠性、性能优良的产品和高效的服务。

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