上海奥麦达微电子有限公司

专业高效
微纳加工公司

CGH计算全息定制

业务板块一:光学元件CGH检测设计制造

图片1


CGH检测原理图

CGH计算全息可以将激光干涉仪测试波前,“转化为”所需的非球面、自由曲面波前,特别适用于高精度非球面、自由曲面面形检测。公司突破了CGH设计编码, CGH光刻等工艺,能够实现自由曲面纳米精度测量。可以按照客户定制各类尺寸与精度的CGH计算全息设计、制造,数据畸变分析等承接各类高难度光学元件CGH测量。

客户实例:


2

 

业务板块二:共体光学元件CGH计算全息检测与辅助装调

装调困难是传统自由曲面光学系统面临的一大挑战,因此近年来的一个发展趋势是“多面共体”,即将系统中的多个复杂曲面以确定的位置关系加工在一个光学元件上,共用一个镜体。CGH计算全息理论上能够由其衍射作用生成任意波前,是复杂曲面检验的首选补偿器;并且因为可在 CGH 上同步制作出多个功能区域,实现不同功能检验光

路的高精度对准,CGH 非常适合于共体多曲面的形位误差同步检验要求。承接各类离轴、同轴多反系统CGH辅助装调共体光学元件CGH测量。

针对某些系统中单全息难以同时检测主、三镜的困难,本公司提出了双全息共基准装检方案,实现了两块全息片之间六自由度精密定位进而完成主镜、三镜的共基准装调。



 

3

离轴三反光学系统示意图

 

4

 

业务板块三:定制化面形检测工艺设计:

包括平面、柱面、非球面的拼接测量;干涉检测数据畸变矫正(抛物面的无像差点法、CGH检测/传统补偿器检测畸变矫正);坐标/轮廓点云数据误差评价等。

image

畸变矫正软件

image

CGH调整架


 

关于我们

OMeda(上海奥麦达微)成立于2021年,由3名在微纳加工行业拥有超过7年经验的工艺,项目人员创立。目前拥有员工15人,在微纳加工(镀膜、光刻、蚀刻、双光子打印、键合,键合)等工艺拥有丰富的经验。 同时,我们支持4/6/8英寸晶圆的纳米加工。部分设备和工艺支持12英寸晶圆工艺。针对MEMS传感器、柔性传感器、微流控、微纳光学,激光器,光子集成电路,Micro LED,功率器件等行业。 我们将凭借先进的设备、仪器和经验,为您带来可靠性、性能优良的产品和高效的服务。

姓名:*
邮件:*
公司名称:
电话:*
您的需求: